荧光分布成像系统测定量子产率分布

以荧光分布成像系统测定量子产率分布为例。

荧光分布成像系统(EEM® View)是用于观察样品图像、获取光谱的附件。入射光通过照射积分球内壁，获得均匀光源，进而观察样品。利用F-7100标配的荧光检测器获得荧光光谱，利用积分球下方的CMOS相机装置同时得到荧光样品的反射和荧光图像。

量子产率是影响荧光样品发光效率的重要因素，可以通过激发光的吸收量和荧光的发光量进行计算。荧光分布成像系统能够利用样品的反射图像计算出吸收量，利用荧光图像计算出荧光量，从而计算得到量子产率分布。

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